Characterization of Stress in GaN-on-Sapphire Microelectromechanical Systems Structures Using Micro-Raman Spectroscopy

Name: Characterization of Stress in GaN-on-Sapphire Microelectromechanical Systems Structures Using Micro-Raman Spectroscopy
Price: 55.90 OMR
Availability: InStock

معرّف المنتج: 81050519

معاملة آمنة

يُشترى معًا بشكل متكرر

الوصف

الأسئلة الشائعة

ترست بايلوت

الثقة 4.5 | 7300+ مراجعات

أنیتا ج.

تجربة جيدة، لكن كان يمكن تحسين تحديثات التتبع.

منذ شهرين

علي ح.

شحن سريع وتغليف ممتاز. أداة ليثيرمان تبدو فاخرة ومتينة للغاية.

منذ يوم واحد

عرض جميع مراجعات ترست بايلوت

تسوّق عالميًا، ووفّر مع Desertcart

قيمة مقابل المال

أسعار تنافسية على مجموعة واسعة من المنتجات.

تسوّق عالميًا

نخدم أكثر من 300 مليون متسوق في أكثر من 200 دولة.

حماية معززة

خيارات دفع موثوقة يحبها المتسوقون في جميع أنحاء العالم.

ضمان العملاء

خيارات دفع موثوقة يحبها المتسوقون في جميع أنحاء العالم.

تطبيق Desertcart

تسوّق أثناء التنقل، في أي وقت وأي مكان.

55.90 OMR

OMANمتجر

إرجاع مجاني

30 يومًالمستخدمي عضوية PRO

15 يومًابدون عضوية

معاملة آمنة

ترست بايلوت

الثقة 4.5 | 7300+ مراجعات

رافي س.

أحببت تنوع المنتجات المتاحة. سأقوم بالتسوق بالتأكيد مرة أخرى.

منذ شهرين

عمران ف.

متجر موثوق للغاية ومنتجات أصلية. سأشتري بالتأكيد مرة أخرى!

منذ أسبوعين

عرض جميع مراجعات ترست بايلوت